Robust and Reliable AI for Predictive Quality in Semiconductor Materials Manufacturing with MLOps and Uncertainty Quantification

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Gao, Min, Perathoner, Julia Maria, Bonin, Anton Ludwig, Eulig, Steven, Klesse, Gianni
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Machine Learning Computational Engineering, Finance, and Science I.2; I.6; J.2
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https://arxiv.org/abs/2605.07752