EntropyScan: Towards Model-level Backdoor Detection in LVLMs via Visual Attention Entropy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ge, Xuanyu, Wang, Zhongqi, Zhang, Jie, Shan, Shiguang, Chen, Xilin
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2605.15711