SDM: A Powerful Tool for Evaluating Model Robustness

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Liu, Xinlei, Hu, Tao, Xie, Jichao, Yi, Peng, Ma, Hailong, Li, Baolin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2605.20308