Buchumschlag

Quantifying the coupling between strain and cation valence in high entropy oxide thin films using electron microscopy

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Ayyagari, Sai Venkata Gayathri, Almishal, Saeed SI, Mukherjee, Debangshu, Roccapriore, Kevin M., Maria, Jon-Paul, Alem, Nasim
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
Schlagworte:
Materials Science
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