Rethinking Passive RIS: Finite Blocklength Reliability Analysis Under Thermal Noise

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Karim, Farjam, Kumar, Deepak, Dharmawansa, Prathapasinghe, Mahmood, Nurul Huda, de Sena, Arthur Sousa, Latva-aho, Matti
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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