Impact of Surface Treatment on Noise in PL-Measurements of Silicon Vacancies in 4H-SiC Lateral pin-Diodes

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Schwarberg, Jannik H., Magerl, Fabian, Beuer, Susanne, May, Alexander, Gobert, Christian, Siebert, Martin, Miersch, Christian, Möller, Heino, Knolle, Wolfgang, Luo, Chihang, Dick, Jan F., Beyer, Franziska C., Rommel, Mathias, Schulze, Jörg
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
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