Impact of Surface Treatment on Noise in PL-Measurements of Silicon Vacancies in 4H-SiC Lateral pin-Diodes

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Schwarberg, Jannik H., Magerl, Fabian, Beuer, Susanne, May, Alexander, Gobert, Christian, Siebert, Martin, Miersch, Christian, Möller, Heino, Knolle, Wolfgang, Luo, Chihang, Dick, Jan F., Beyer, Franziska C., Rommel, Mathias, Schulze, Jörg
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Quantum Physics
Online-Zugang:	Acceder al recurso
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