High-fidelity EDSR in Si/SiGe Wiggle Wells

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Soomro, Hudaiba, Kim, Minyoung, Vivrekar, Avani, Eriksson, M. A., Woods, Benjamin D., Friesen, Mark
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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