Experimental and computational diffusion analysis in Ni-X binary and Ni-Al-X (X = Cr, Mo, Ta, W, Re) ternary systems

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Srivastava, Ankur, Sadhu, Suman, Kumar, Satyam, Bansal, Ujjval, Ravi, Raju, Bhattacharyya, Saswata, Gautam, Gopalakrishnan Sai, Paul, Aloke
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Materials Science
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