Defect-engineered scaling of lead-free ferroelectrics with ultralow-voltage switching

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ghanbari, Reza, Wang, Jiayue, KP, Harikrishnan, Shi, Zixiao, Khandelwal, Aarushi, Koons, Konnor, Rodrigues, Eli, Zhou, Tao, Holt, Martin, Muller, David A., Hwang, Harold Y., Xu, Ruijuan
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2605.30751