Medidas de Transmitancia Espectral sin la Presencia de Franjas de Interferencia: Un Modelo para la Obtención de las Constantes Ópticas en Películas Delgadas Semiconductoras

Fuente: Redalyc

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Auteur principal:	Heiddy Paola Quiroz Gaitán
Format:	Artículo científico
Langue:	es
Publié:	Escuela de Ingeniería de Antioquia 2014
Sujets:	Ingeniería semiconductores Películas delgadas propiedades ópticas
Accès en ligne:	Acceder al recurso
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

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