AUTOMATIZACIÓN DEL PROCESO DE MEDICIONES CON EL PATRÓN DE MEDICIÓN FLUKE 5790A
Fuente:
Redalyc
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| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Language: | es |
| Published: |
Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología
2012
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| Subjects: | |
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| _version_ | 1876446438977699840 |
|---|---|
| author | Eddy Luis Pullés-Martín |
| author_facet | Eddy Luis Pullés-Martín |
| contents | AUTOMATIZACIÓN DEL PROCESO DE MEDICIONES CON EL PATRÓN DE MEDICIÓN FLUKE 5790A Eddy Luis Pullés-Martín Mirtha Juana Navarro-González Ingeniería Datos LabVIEW SoftCal 5790 1 GPIB (puerto de instrumentación) Este artículo contiene una breve descripción de cómo adquirir una gran cantidad de datos de un equipo de medición digital con la mayor calidad y en el menor tiempo posible. Para esto se desarrolló SoftCal 5790 1.0, utilizando un lenguaje de programación gráfico: la plataforma LabVIEW, de National Instruments, que cuenta con un gran numero de funciones para el trabajo con la adquisición y presentación de datos, su control y análisis a través de comunicación serie, paralelo o GPIB (puerto de instrumentación) con una PC. 2012 artículo científico 0138-8576 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=223026402003 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=2230 Boletín Científico Técnico INIMET application/pdf Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología Boletín Científico Técnico INIMET (Cuba) Num.2 |
| format | Artículo científico |
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| institution | Redalyc |
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| publishDate | 2012 |
| publisher | Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología |
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| topic | Ingeniería Datos LabVIEW SoftCal 5790 1 GPIB (puerto de instrumentación) |
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