Reconstrucción del Perfil de Índice de Refracción de una Fibra Óptica de Silicio Puro por el Método de los Elementos Finitos y el Patrón de Campo Cercano

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	Luis Fernando Castrillón-Gallego
Format:	Artículo científico
Language:	es
Published:	Instituto Tecnológico Metropolitano 2007
Subjects:	Ingeniería fibra óptica campo cercano Perfil de índice elementos finitos
Online Access:	Acceder al recurso
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