Reconstrucción del Perfil de Índice de Refracción de una Fibra Óptica de Silicio Puro por el Método de los Elementos Finitos y el Patrón de Campo Cercano
Fuente:
Redalyc
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Sprache: | es |
| Veröffentlicht: |
Instituto Tecnológico Metropolitano
2007
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
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