Methodology to Prepare Patent Analysis and the Technological Maturity Cycle

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Santiago Sinisterra
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia 2023
Materias:	Ingeniería lens orbit Forecasting loglet Lab 4 patent analysis
Acceso en línea:	Acceder al recurso 1 Acceder al recurso 2 Acceder al recurso 3 Acceder al recurso 4 Acceder al recurso 5 Acceder al recurso 6
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