Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos

Fuente: Redalyc

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Mónica Monsalve
Format:	Artículo científico
Published:	Universidad de Antioquia 2010
Subjects:	Ingeniería nitruro de titanio películas delgadas Tensiones residuales difracción de rayos x
Online Access:	Acceder al recurso
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

Internet