Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos
Fuente:
Redalyc
Salvato in:
| Autore principale: | |
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| Natura: | Artículo científico |
| Pubblicazione: |
Universidad de Antioquia
2010
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | |
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