Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos

Fuente: Redalyc
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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mónica Monsalve
Formato: Artículo científico
Publicado: Universidad de Antioquia 2010
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