Early fault detection in SiC-MOSFET with application in boost converter

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Leobardo Hernández-González
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Universidad de Antioquia 2018
Schlagworte:	Ingeniería fault detection Semiconductor silicon carbide
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