Measurement of Inelastic-Scattering Cross Sections in the 16O +28 Si System to Discriminate Regular and Chaotic Regimes
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Artículo científico |
| Lenguaje: | en |
| Publicado: |
Sociedade Brasileira de Física
2004
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| Materias: | |
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