Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastes

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	S. Ballesteros-Elizondo
Format:	Artículo científico
Langue:	en
Publié:	Universidad Nacional Autónoma de México 2011
Sujets:	Ingeniería Focused Ion beam (FIB) Transmission Electron Microscopy (TEM) Selected Area Diffraction Patterns(SADP)
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