Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastes

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	S. Ballesteros-Elizondo
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Universidad Nacional Autónoma de México 2011
Materias:	Ingeniería Focused Ion beam (FIB) Transmission Electron Microscopy (TEM) Selected Area Diffraction Patterns(SADP)
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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