Characterization of Silicon Rich Oxides with Tunable Optical Band Gap on Sapphire Substrates by Photoluminescence, UV/Vis and Raman Spectroscopy

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Ragnar Kiebach
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Sociedad Química de México 2008
Materias:	Multidisciplinaria (Ciencias Naturales y Exactas) luminescence Raman spectroscopy silicon rich oxides Silicon nano crystals nanostructured materials
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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