Characterization of ALN thin films deposited by DC reactive magnetron sputtering

Fuente: Redalyc
Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: M. García-Méndez
Format: Artículo científico
Langue:en
Publié: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2008
Sujets:
Accès en ligne:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!