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Medición de temperatura usando un VCO integrado en silicio

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	F. Sandoval-Ibarra
Format:	Artículo científico
Language:	es
Published:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2011
Subjects:	Física, Astronomía y Matemáticas Osciladores teoría de circuitos mediciones eléctricas dispositivos de efecto de campo
Online Access:	Acceder al recurso
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