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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Sprache: | es |
| Veröffentlicht: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2013
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57025666005 |
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Inhaltsangabe:
- IHD para medir simultáneamente en 2D, usando dos fuentes independientes de luz láser con longitud de coherencia grande T. Saucedo L. Pérez-Arrieta S. Hinojosa J.M. Rivera Física, Astronomía y Matemáticas Interferometría holográfica patrones de Speckle y Moiré técnicas de pruebas ópticas interferometría de desplazamiento de fase Se presenta un arreglo para medir simultáneamente dos componentes ortogonales de deformación en la superficie de un objeto. El arreglo, basado en interferometría holográfica digital, usa dos láseres para grabar independientemente dos hologramas en un sólo cuadro de la cámara CCD. El arreglo se prueba con una placa metálica que cambia ligeramente sus dimensiones al ser calentada Trabajos recientes en el desarrollo de este tipo de arreglos, muestran limitantes en el hecho de no poder usar fuentes de luz con longitud de coherencia relativamente grandes. Este arreglo está exento de esa limitante. 2013 artículo científico 0035-001X https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57025666005 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=570 Revista Mexicana de Física application/pdf Sociedad Mexicana de Física A.C. Revista Mexicana de Física (México) Num.2 Vol.59