Common-source cold-FET used to validate noise figure measurements and on-wafer FET noise parameters

Fuente: Redalyc

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	B. E. Figueroa Reséndiz
Format:	Artículo científico
Langue:	en
Publié:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2013
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas FET cold source F50 method Noise figure
Accès en ligne:	Acceder al recurso
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet