Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	G. López-Maldonado
Format:	Artículo científico
Langue:	en
Publié:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2014
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas
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