X-ray diffraction analysis of stannite, wurtz-stannite and pseudo-cubic quaternary compounds by Rietveld method

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	M. Quintero
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2014
Materias:	Física, Astronomía y Matemáticas crystal growth crystal structure Rietveld refinement ray powder diffraction Magnetic semiconductors
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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