Optical and electrical characterization of AlxGa1−xAs layers grown on GaAs obtained by a metallic-arsenic-based-MOCVD system
Fuente:
Redalyc
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|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Langue: | en |
| Publié: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2007
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