Optical and electrical characterization of AlxGa1−xAs layers grown on GaAs obtained by a metallic-arsenic-based-MOCVD system

Fuente: Redalyc
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1. Verfasser: J. Díaz-Reyes
Format: Artículo científico
Sprache:en
Veröffentlicht: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2007
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