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| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Language: | es |
| Published: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57042601006 |
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Table of Contents:
- Automatización de un microscopio de barrido por efecto túnel utilizando una tarjeta OMB-DaqBoard/2000 y LabVIEW J.A. Martínez J. Valenzuela M.P. Hernández J. Herrera Física, Astronomía y Matemáticas adquisición de datos instrumentación para microscopía Microscopía de barrido por efecto túnel El articulo muestra el trabajo para la automatizaci ́on y control de un microscopio de barrido por efecto t ́unel (STM) construido por losautores. La interfase entre la computadora y el microscopio ha sido implementada por medio de una tarjeta de adquisici ́on de datos OMB-DaqBoard/2000. Un programa desarrollado en LabVIEW genera las se ̃nales requeridas para el barrido X-Y, y simult ́aneamente adquierelos voltajes de Z relacionados con la corriente de t ́unel entre la punta y la muestra. El programa construye la imagen de microscopia dela superficie estudiada a partir de los voltajes Z. El proceso para la calibraci ́on del instrumento utiliz ́o im ́agenes de resoluci ́on at ́omica desuperficies conocidas. 2016 artículo científico 0035-001X https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57042601006 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=570 Revista Mexicana de Física application/pdf Sociedad Mexicana de Física A.C. Revista Mexicana de Física (México) Num.1 Vol.62