Caracterización de capacitores MOS basados en peliculas de oxido de hafnio obtenidas a 150°C

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	S. Cerón
Format:	Artículo científico
Langue:	es
Publié:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2016
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas capacitor MOS Óxido de hafnio caracterización eléctrica
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