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Materials characterization by analysis of force-distance curves: an introduction to nano-mechanical measures and experimentation for undergraduate students

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	J. Eduardo Ortega
Format:	Artículo científico
Sprache:	en
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2017
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas elastic properties force spectroscopy surface characterization Atomic force microscopy (AFM)
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