Lock-in amplifier-based rotating-analyzer spectroscopic ellipsometer with micro-controlled angular frequency

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	J. M. Flores-Camacho
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	en
Publicado:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2005
Materias:	Física, Astronomía y Matemáticas Ellipsometers control systems dielectric function optical properties of thin films
Acceso en línea:	Acceder al recurso 1 Acceder al recurso 2 Acceder al recurso 3 Acceder al recurso 4 Acceder al recurso 5
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