Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia
Fuente:
Redalyc
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|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Langue: | es |
| Publié: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2006
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| _version_ | 1876470336346652672 |
|---|---|
| author | C. Palavicini |
| author_facet | C. Palavicini |
| contents | Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia C. Palavicini Y. Jaouën P. Gallion G. Campuzano Física, Astronomía y Matemáticas Reflectometría de baja coherencia caracterización de dispositivos fotónicos La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas detelecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidadesexistentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una información precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichoscomponentes. 2006 artículo científico 0035-001X https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57065214 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=570 Revista Mexicana de Física application/pdf Sociedad Mexicana de Física A.C. Revista Mexicana de Física (México) Num.4 Vol.52 |
| format | Artículo científico |
| id | redalyc_57065214 |
| institution | Redalyc |
| language | es |
| publishDate | 2006 |
| publisher | Sociedad Mexicana de Física A.C. |
| spellingShingle | Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia C. Palavicini Física, Astronomía y Matemáticas Reflectometría de baja coherencia caracterización de dispositivos fotónicos Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia C. Palavicini Y. Jaouën P. Gallion G. Campuzano Física, Astronomía y Matemáticas Reflectometría de baja coherencia caracterización de dispositivos fotónicos La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas detelecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidadesexistentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una información precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichoscomponentes. 2006 artículo científico 0035-001X https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57065214 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=570 Revista Mexicana de Física application/pdf Sociedad Mexicana de Física A.C. Revista Mexicana de Física (México) Num.4 Vol.52 |
| title | Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia |
| topic | Física, Astronomía y Matemáticas Reflectometría de baja coherencia caracterización de dispositivos fotónicos |
| url | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57065214 |