Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	E. Villegas
Format:	Artículo científico
Langue:	es
Publié:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2018
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas ZnO TiO2 SnO2
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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