Determination of the barrier height of P t − Ir Schottky nano-contacts on Al-doped ZnO thin films by conductive Atomic Force Microscopy
Fuente:
Redalyc
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|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Langue: | en |
| Publié: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2018
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