Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido

Fuente: Redalyc

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Eliana Acurio
Format:	Artículo científico
Langue:	es
Publié:	Escuela Politécnica Nacional 2022
Sujets:	Ingeniería GaN AlGaN diodos intrínseco confiabilidad
Accès en ligne:	Acceder al recurso 1 Acceder al recurso 2 Acceder al recurso 3 Acceder al recurso 4 Acceder al recurso 5
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet