Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	Eliana Acurio
Format:	Artículo científico
Language:	es
Published:	Escuela Politécnica Nacional 2022
Subjects:	Ingeniería GaN AlGaN diodos intrínseco confiabilidad
Online Access:	Acceder al recurso 1 Acceder al recurso 2 Acceder al recurso 3 Acceder al recurso 4 Acceder al recurso 5
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