Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido

Fuente: Redalyc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Eliana Acurio
Format:	Artículo científico
Sprache:	es
Veröffentlicht:	Escuela Politécnica Nacional 2022
Schlagworte:	Ingeniería GaN AlGaN diodos intrínseco confiabilidad
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