Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido

Fuente: Redalyc

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Eliana Acurio
Natura:	Artículo científico
Lingua:	es
Pubblicazione:	Escuela Politécnica Nacional 2022
Soggetti:	Ingeniería GaN AlGaN diodos intrínseco confiabilidad
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