Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas
Fuente:
Redalyc
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| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Language: | es |
| Published: |
Universidad de Tarapacá
2007
|
| Subjects: | |
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| _version_ | 1876443832672845824 |
|---|---|
| author | José Peralta |
| author_facet | José Peralta |
| contents | Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas José Peralta Gabriela Peretti Carlos Marqués Eduardo Romero Ingeniería Test de circuitos analógicos método de análisis transitorio detección de fallas paramétricas detección de fallas de desviación En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis de Transitorio para ladetección de fallas paramétricas. Estas fallas son definidas como violaciones en las especificaciones de un circuito debidoa desviaciones estadísticas en los componentes. Consecuentemente, el circuito es declarado como defectuoso si al menosuna de las especificaciones está más allá de los límites tolerables. Un filtro de segundo orden se adopta como caso deestudio para la realización de las evaluaciones propuestas. Las especificaciones son establecidas sobre los parámetros dedesempeño y los atributos de test son el tiempo de pico y la sobre-elongación de la respuesta transitoria.Para determinar la calidad del test, son generadas 8 poblaciones de 1.000 individuos. Cada individuo es obtenido asignandoun valor aleatorio para sus componentes. Las poblaciones son obtenidas mediante el incremento de la variabilidad de loscomponentes, desde 3% hasta 10% en pasos de 1%. La evaluación concurrente de las especificaciones y de los parámetrosde test permite establecer las métricas utilizadas para calificar al test. Los resultados de simulación permiten concluir quemediante la medición de los atributos de test propuestos es posible lograr un alto número de buenas decisiones de test.Adicionalmente, es posible observar que la capacidad de detección de circuitos buenos es también elevada. A pesar deestos hechos, el número de circuitos defectuosos que pasan el test podría ser inaceptable para aplicaciones que demandenuna alta cobertura de fallas 2007 artículo científico 0718-3291 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=77215202 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=772 Ingeniare. Revista Chilena de Ingeniería application/pdf Universidad de Tarapacá Ingeniare. Revista Chilena de Ingeniería (Chile) Num.2 Vol.15 |
| format | Artículo científico |
| id | redalyc_77215202 |
| institution | Redalyc |
| language | es |
| publishDate | 2007 |
| publisher | Universidad de Tarapacá |
| spellingShingle | Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas José Peralta Ingeniería Test de circuitos analógicos método de análisis transitorio detección de fallas paramétricas detección de fallas de desviación Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas José Peralta Gabriela Peretti Carlos Marqués Eduardo Romero Ingeniería Test de circuitos analógicos método de análisis transitorio detección de fallas paramétricas detección de fallas de desviación En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis de Transitorio para ladetección de fallas paramétricas. Estas fallas son definidas como violaciones en las especificaciones de un circuito debidoa desviaciones estadísticas en los componentes. Consecuentemente, el circuito es declarado como defectuoso si al menosuna de las especificaciones está más allá de los límites tolerables. Un filtro de segundo orden se adopta como caso deestudio para la realización de las evaluaciones propuestas. Las especificaciones son establecidas sobre los parámetros dedesempeño y los atributos de test son el tiempo de pico y la sobre-elongación de la respuesta transitoria.Para determinar la calidad del test, son generadas 8 poblaciones de 1.000 individuos. Cada individuo es obtenido asignandoun valor aleatorio para sus componentes. Las poblaciones son obtenidas mediante el incremento de la variabilidad de loscomponentes, desde 3% hasta 10% en pasos de 1%. La evaluación concurrente de las especificaciones y de los parámetrosde test permite establecer las métricas utilizadas para calificar al test. Los resultados de simulación permiten concluir quemediante la medición de los atributos de test propuestos es posible lograr un alto número de buenas decisiones de test.Adicionalmente, es posible observar que la capacidad de detección de circuitos buenos es también elevada. A pesar deestos hechos, el número de circuitos defectuosos que pasan el test podría ser inaceptable para aplicaciones que demandenuna alta cobertura de fallas 2007 artículo científico 0718-3291 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=77215202 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=772 Ingeniare. Revista Chilena de Ingeniería application/pdf Universidad de Tarapacá Ingeniare. Revista Chilena de Ingeniería (Chile) Num.2 Vol.15 |
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| topic | Ingeniería Test de circuitos analógicos método de análisis transitorio detección de fallas paramétricas detección de fallas de desviación |
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