Caracterização química, molecular e mecânica de um compósito odontológico nanoparticulado
Fuente:
Redalyc
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Artículo científico |
| Lingua: | pt |
| Pubblicazione: |
Universidade Nove de Julho
2010
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
| _version_ | 1876431421499768832 |
|---|---|
| author | Paulo Rogério Ferreira da Silva |
| author_facet | Paulo Rogério Ferreira da Silva |
| contents | Caracterização química, molecular e mecânica de um compósito odontológico nanoparticulado Paulo Rogério Ferreira da Silva Rodrigo de Oliveira Airton Abrahão Martin Ana Maria do Espírito Santo Luís Eduardo Silva Soares Ingeniería Raman Espectroscopia FT Composição química Fluorescência de Raios Rugosidade superficial Este estudo caracterizou um compósito por Fluorescência de Raios-X por Energia Dispersiva (¿ED-XRF), espectroscopia FT-Raman e rugosidade superficial. Foram realizadas duas cavidades em cada espécime (n=10) restauradas com resina. Mapeamentos em linha, em área e análises pontuais foram realizados por ¿ED-XRF. Ainda, foram feitas leituras pontuais por FT-Raman e em linha por rugosidade superficial. Observou-se, por ¿EDXRF, uma média e desvio padrão de: 20,76 % (1,11) de Si e 6,67 % (0,37) de Zr (linha); 23,18 % (0,96) de Si e 7,65 % (0,41) de Zr (pontual); 24,36 % (1,24) de Si e 6,75 % (1,00) de Zr (área). O mapeamento por área é mais indicado, pois a variabilidade dos dados amostrais é minimizada. A rugosidade média (Ra) foi de: 0,17 ¿m (0,03) (resina); 0,21 ¿m (0,06) (esmalte). Nos espectros Raman da resina foi possível identificar bandas em 1605 cm-1 e em 1635 cm-1. 2010 artículo científico 1678-5428 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=81015201007 pt http://www.redalyc.org/revista.oa?id=810 Exacta application/pdf Universidade Nove de Julho Exacta (Brasil) Num.1 Vol.8 |
| format | Artículo científico |
| id | redalyc_81015201007 |
| institution | Redalyc |
| language | pt |
| publishDate | 2010 |
| publisher | Universidade Nove de Julho |
| spellingShingle | Caracterização química, molecular e mecânica de um compósito odontológico nanoparticulado Paulo Rogério Ferreira da Silva Ingeniería Raman Espectroscopia FT Composição química Fluorescência de Raios Rugosidade superficial Caracterização química, molecular e mecânica de um compósito odontológico nanoparticulado Paulo Rogério Ferreira da Silva Rodrigo de Oliveira Airton Abrahão Martin Ana Maria do Espírito Santo Luís Eduardo Silva Soares Ingeniería Raman Espectroscopia FT Composição química Fluorescência de Raios Rugosidade superficial Este estudo caracterizou um compósito por Fluorescência de Raios-X por Energia Dispersiva (¿ED-XRF), espectroscopia FT-Raman e rugosidade superficial. Foram realizadas duas cavidades em cada espécime (n=10) restauradas com resina. Mapeamentos em linha, em área e análises pontuais foram realizados por ¿ED-XRF. Ainda, foram feitas leituras pontuais por FT-Raman e em linha por rugosidade superficial. Observou-se, por ¿EDXRF, uma média e desvio padrão de: 20,76 % (1,11) de Si e 6,67 % (0,37) de Zr (linha); 23,18 % (0,96) de Si e 7,65 % (0,41) de Zr (pontual); 24,36 % (1,24) de Si e 6,75 % (1,00) de Zr (área). O mapeamento por área é mais indicado, pois a variabilidade dos dados amostrais é minimizada. A rugosidade média (Ra) foi de: 0,17 ¿m (0,03) (resina); 0,21 ¿m (0,06) (esmalte). Nos espectros Raman da resina foi possível identificar bandas em 1605 cm-1 e em 1635 cm-1. 2010 artículo científico 1678-5428 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=81015201007 pt http://www.redalyc.org/revista.oa?id=810 Exacta application/pdf Universidade Nove de Julho Exacta (Brasil) Num.1 Vol.8 |
| title | Caracterização química, molecular e mecânica de um compósito odontológico nanoparticulado |
| topic | Ingeniería Raman Espectroscopia FT Composição química Fluorescência de Raios Rugosidade superficial |
| url | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=81015201007 |