Caracterización morfológica de películas anódicas crecidas sobre al 2024-T3 mediante el uso de corriente directa

Fuente: Redalyc
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Main Author: Ariel Camargo
Format: Artículo científico
Language:es
Published: Universidad Tecnológica de Pereira 2007
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author Ariel Camargo
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contents Caracterización morfológica de películas anódicas crecidas sobre al 2024-T3 mediante el uso de corriente directa Ariel Camargo Alejandra Rios Rojas William Aperador Cesar Ortiz Enrique Vera Ingeniería DC DRX Tamaño de grano Película anódica Densidad de corriente Se presenta la técnica de corriente directa (DC) para obtener películas de Al2O3sobre aluminio 2024-T3 a diferentes densidades de corriente usando solucionesde H2SO4. Para obtener las películas, se trabajo con concentración del electrolitodel 15% v/v, temperatura de 20°C, pH=5, durante 30 minutos. Monitoreando elpotencial anódico mediante software en LabVIEW. Las películas secaracterizaron por microscopia óptica, microscopia electrónica de barrido (MEB)y con difracción de rayos X (DRX). Los resultados muestran la influencia de ladensidad de corriente en la formación de películas de óxido más densas y contamaño de grano mas fino. 2007 artículo científico 0122-1701 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84903660 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=849 Scientia Et Technica application/pdf Universidad Tecnológica de Pereira Scientia Et Technica (Colombia) Num.36 Vol.XIII
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Caracterización morfológica de películas anódicas crecidas sobre al 2024-T3 mediante el uso de corriente directa Ariel Camargo Alejandra Rios Rojas William Aperador Cesar Ortiz Enrique Vera Ingeniería DC DRX Tamaño de grano Película anódica Densidad de corriente Se presenta la técnica de corriente directa (DC) para obtener películas de Al2O3sobre aluminio 2024-T3 a diferentes densidades de corriente usando solucionesde H2SO4. Para obtener las películas, se trabajo con concentración del electrolitodel 15% v/v, temperatura de 20°C, pH=5, durante 30 minutos. Monitoreando elpotencial anódico mediante software en LabVIEW. Las películas secaracterizaron por microscopia óptica, microscopia electrónica de barrido (MEB)y con difracción de rayos X (DRX). Los resultados muestran la influencia de ladensidad de corriente en la formación de películas de óxido más densas y contamaño de grano mas fino. 2007 artículo científico 0122-1701 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84903660 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=849 Scientia Et Technica application/pdf Universidad Tecnológica de Pereira Scientia Et Technica (Colombia) Num.36 Vol.XIII
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