LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS

Fuente: Redalyc

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Bibliographic Details
Main Author:	FRANCY NELLY JIMÉNEZ G.
Format:	Artículo científico
Language:	es
Published:	Universidad Tecnológica de Pereira 2008
Subjects:	Ingeniería Puntos críticos Fotorreflectancia Espectroscopía de Modulación
Online Access:	Acceder al recurso
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

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