LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS

Fuente: Redalyc

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	FRANCY NELLY JIMÉNEZ G.
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	es
Publicado:	Universidad Tecnológica de Pereira 2008
Materias:	Ingeniería Puntos críticos Fotorreflectancia Espectroscopía de Modulación
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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