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LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS

Fuente: Redalyc

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	FRANCY NELLY JIMÉNEZ G.
Format:	Artículo científico
Langue:	es
Publié:	Universidad Tecnológica de Pereira 2008
Sujets:	Ingeniería Puntos críticos Fotorreflectancia Espectroscopía de Modulación
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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