Interferometria por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Fuente: Redalyc
Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: P. J. E. Rueda
Format: Artículo científico
Language:es
Published: Universidad de Pamplona 2006
Subjects:
Online Access:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!