Hernández, R. (1999). Interferometric thickness determination of thin metallic films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
Cita Chicago Style (17a ed.)Hernández, R. Interferometric Thickness Determination of Thin Metallic Films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 1999.
Cita MLA (9a ed.)Hernández, R. Interferometric Thickness Determination of Thin Metallic Films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 1999.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.