Hernández, R. (1999). Interferometric thickness determination of thin metallic films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hernández, R. Interferometric Thickness Determination of Thin Metallic Films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hernández, R. Interferometric Thickness Determination of Thin Metallic Films. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 1999.
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