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XPS analysis of oxidation states of Te in CdTe oxide films grown by rf sputtering with an Ar -NH3 plasma

Fuente: Redalyc

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	P. Bartolo Pérez
Natura:	Artículo científico
Lingua:	en
Pubblicazione:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2001
Soggetti:	Física, Astronomía y Matemáticas XPS Ammonia CdTe oxide Sputtering
Accesso online:	Acceder al recurso
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