Sierra, R. P. (2001). Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sierra, R. Peña. Estudio De La Morfología Superficial E índice De Refracción En Películas Nanométricas De Silicio Poroso. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 2001.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sierra, R. Peña. Estudio De La Morfología Superficial E índice De Refracción En Películas Nanométricas De Silicio Poroso. Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C, 2001.
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