Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso

Fuente: Redalyc
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Main Author: R. Peña Sierra
Format: Artículo científico
Published: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2001
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author R. Peña Sierra
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contents Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso R. Peña Sierra R. G. Romero Paredes G. Aguila Rodríguez Física, Astronomía y Matemáticas 2001 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201323 http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.13
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publishDate 2001
publisher Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
spellingShingle Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
R. Peña Sierra
Física, Astronomía y Matemáticas
Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso R. Peña Sierra R. G. Romero Paredes G. Aguila Rodríguez Física, Astronomía y Matemáticas 2001 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201323 http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.13
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