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Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso

Fuente: Redalyc

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Auteur principal:	R. Peña Sierra
Format:	Artículo científico
Publié:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2001
Sujets:	Física, Astronomía y Matemáticas
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