Imagen de Portada

Obtención y caracterización de TiSi2

Fuente: Redalyc

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	A. Torres Jacome
Formato:	Artículo científico
Lenguaje:	es
Publicado:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2001
Materias:	Física, Astronomía y Matemáticas
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares

Obtención y caracterización óptica y estructural de vidrios de cenizas del volcán Paricutín
por: Ma. E. Zayas
Publicado: (1999)

Obtención y caracterización de quitosano a partir de exoesqueletos de camarón
por: H. Hernández Cocoletzi
Publicado: (2009)

Fabricación y caracterización de materiales compuestos de matriz metálica Al-Cu y Al-Mg reforzados con partículas de TiC
por: J.G. Contreras
Publicado: (2004)

Obtención de imágenes térmicas y termoelectrónicas mediante Radiometría Fototérmica Infrarroja
por: M.E. Rodríguez
Publicado: (2001)

Bipolar resistive switching on Ti/TiO 2 /NiCr memory cells
por: E. Hernández - Rodríguez
Publicado: (2017)

Numerical Simulation of the Optical Properties of SiC/SiO2 Quantum Dots
por: J. S. de Sousa
Publicado: (2004)

Fabricación y caracterización de un amplificador mecánico flexible
por: H. D. Kennedy-Cabrera
Publicado: (2014)

Joining and characterizations of silicon nitride (Si3 N4 ) to titanium (Ti) using a Cu-foil and Cu-Zn braze alloy
por: J. Lemus-Ruiz
Publicado: (2009)

RBS and TEM studies of strain in epitaxially grown CaF2 on Si(111)
por: A. Tempel
Publicado: (1999)

Study of multilayer coatings of Ti/TiN/TiC produced by pulsed arc discharge
por: E. Restrepo
Publicado: (2004)

Preparación y caracterización de recubrimientos resina epóxica/montmorillonita curados por UV sobre acero al carbón
por: M.A. Juárez-Estrada
Publicado: (2016)

High deposition rate a-Si:H layers from pure SiH4 and from a 10% dilution of SiH4 in H2
por: M. Estrada
Publicado: (1999)

Síntesis por el método Pechini y caracterización estructural, óptica y termoeléctrica de CuAlO2
por: C. Estrada-Moreno
Publicado: (2017)

Obtención y caracterización de recubrimientos compuestos Ni-P-X (X=SiC y WC) vía química
por: F. Sánchez-De Jesús
Publicado: (2012)

Adsorption of C2H2C2O3 on Si(001)
por: R. Miotto
Publicado: (2004)

Obtención de la formula de la variancia del estadístico de la docima de rangos de wilcoxon-mann-whitney.
por: Jose Francisco Pastrana
Publicado: (1995)

Depósito de películas delgadas de SiO2 obtenidas por foto-CVD
por: J.E. Munguia
Publicado: (2003)

Vidrios SiO2 nanocompuestos preparados por sol-gel: revisión
por: F. Ruiz
Publicado: (2000)

The influence of TiB2-thinfilm thickness on metal - GaAs structural characteristics
por: Tetyana G. Kryshtab
Publicado: (1999)

Simulación de curvas C-V y C-t para la caracterización eléctrica de dispositivos MIS
por: Jesús Carrillo López
Publicado: (2002)

Structural determination and Rietveld refinement of BaX TiY OZ subspecies
por: A. García-Ruiz
Publicado: (2009)

Contribution of the Charge Image Potential to Carrier Confinement in Graded Si-Based Quantum Wells
por: T. A. S. Pereira
Publicado: (2004)

METRIC PROPERTIES OF RELATIVISTIC ROTATING FRAMES WITH AXIAL SYMMETRY
por: S. A. Torres
Publicado: (2017)

Optoelectronic properties of CdO-Si heterojunctions
por: Mauricio Ortega
Publicado: (1999)

Obtención y caracterización de colágena tipo I a partir de tendón bovino
por: K. Gómez-Lizárraga
Publicado: (2011)

Analysis of SiO2 Thin Films Deposited by PECVD Using an Oxygen-TEOS-Argon Mixture
por: Carlos E. Viana
Publicado: (2001)

Application of optical scatterometry to microstructure changes of Si1 xGex/Si heterostructures grown by gas source molecular beam epitaxy
por: L.F. Zou
Publicado: (1999)

Structural Properties of TiC obtained by Mechano-synthesis
por: G. Rosas
Publicado: (2009)

A Theoretical Study of Acrylonitrile Adsorption on Si(001)
por:
Publicado: (2004)

Structure of Si nano-clusters in ZnO matrix
por: R. García
Publicado: (1999)

Estudio de películas de GaN crecidas por epitaxia de haces moleculares sobre substratos de Si en las direcciones (111) y (001) recubiertos con una capa delgada de SiC
por: M. Cervantes Contreras
Publicado: (2000)

Chemical Stability of Ta Diffusion Barrier Between Cu and Si
por: T. Laurila
Publicado: (1999)

Structure determination on (Ti,Al)N/Mo multilayers for hard coatings
por: C.J. Tavares
Publicado: (1999)

CH3CN on Si(001): Adsorption Geometries and Electronic Structure
por: F. de León Pérez
Publicado: (2004)

Initial molecular beam epitaxial growth of ZnSe on Si substrates
por: V.H. Méndez-García
Publicado: (1997)

Preparation of reactive magnetron sputtered SiC films by RF-RMS technique
por: E. Andrade
Publicado: (1999)

Preparation and optical properties of Ge and C-induced Ge quantum dots on Si
por: K. Eberl
Publicado: (1999)

Síntesis y caracterización de la doble perovskita BaSrCoFe1-xNixO5.5 como cátodo para celdas SOFC
por: J. Alvarado-Flores
Publicado: (2013)

Caracterización por difracción de rayos-X de películas delgadas de CdSx Te1-x
por: M. Zapata Torres
Publicado: (2003)

(Ba,Sr)TiO3 ferroelectric thin films for tunable microwave applications
por: Wontae Chang
Publicado: (2004)