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|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Language: | es |
| Published: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2002
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201507 |
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Table of Contents:
- Efecto de los contactos en películas delgadas de GeSbTe E. Morales Sánchez A. Mendoza Galván E. F. Prokhorov J. González Hernández Física, Astronomía y Matemáticas Impedancia Conductividad Energía de Activación Al comparar los parámetros eléctricos de películas delgadas de GeSbTe obtenidos por 3 métodos diferentes (impedancia,DC, resistividad 4 puntas) se encontró que las mediciones de impedancia son las mas apropiadas porque permite separar lacontribución del bulto y del contacto. Se determinó la dependencia de la conductividad con respecto a la temperatura pormedio de mediciones de impedancia y por mediciones DC. La resistividad fue obtenida para diferentes composicionesmostrando una dependencia con respecto a la rugosidad 2002 artículo científico 1665-3521 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201507 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=942 Superficies y vacío application/pdf Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. Superficies y vacío (México) Num.15