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Análisis AES y XPS de películas delgadas de oxidos de CdTe crecidas por sputtering en Ar-N2O

Fuente: Redalyc

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	A. Zapata Navarro
Natura:	Artículo científico
Lingua:	es
Pubblicazione:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2002
Soggetti:	Física, Astronomía y Matemáticas
Accesso online:	Acceder al recurso
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